Descriere

Proiectul bilateral cu titlul „Filme ceramice subtiri nanoporoase din cristale zeolitice pe baza de siliciu pentru materiale cu constanta dielectrica redusa”, finantat prin programul CAPACITATI, Modulul III, Cooperari Bilaterale realizat în colaborare cu UNIVERSITATEA din HANSEO, Coreea de Sud îsi propune dezvoltarea si fabricarea unor filme ceramice subtiri nanoporoase din cristale zeolitice pe baza de siliciu pe substrat de sticla si ceramica pentru materiale cu constanta dielectrica redusa. Filmul subtire de cristale nanoporoase de siliciu si zeoliti este unul dintre materialele candidate cruciale pentru viitoarele materiale cu constanta dielectrica redusa. Materialele cu constanta dielectrica redusa pot reduce întârzierile circuitului rezistenta-capacitate (RC), disiparea energiei si încrucisarile interliniare Organizarea nanocristalelor din zeoliti în monostraturi orientate uniform pe diferite suporturi prin metoda hidrotermica este de mare interes din mai multe motive. De exemplu, acesta este un mod eficient de a produce film subtire din zeolit care poate fi aplicat la scara larga in industrie pentru catalizatori de film subtire, ca site nano-poroase pentru separarea moleculara, ca dispozitive de selectare a dimensiunii. Filmele subtiri cu monostrat orientat al cristalelor din zeoliti au de asemenea un potential ridicat ca mediu ideal de organizare pentru diferite nanocristale semiconductoare si molecule cu proprietati optice neliniare cât si ca nanoreactori bine definiti pentru explorarea chimiei inovatoare în medii extrem de organizate si definite.
Cercetarea a presuspus un efort comun al studentilor si oamenilor de stiinta din Coreea si România în studierea constantei dielectrice, ansamblului monostrat cu directie controlata a nanocristalelor din zeolit pe substrat de sticla si ceramic prin legaturi covalente. Metodele dielectrice care au fost folosite sunt: spectroscopia dielectrica în banda larga de pâna la 10 GHz si 450 C, analiza electroacustica a impulsurilor, analiza descarcarilor partiale în banda larga si metoda curentilor simulati termic
Ca instrument de referinta a masurarilor dielectrice avansate, spectroscopia dielectrica de banda larga a capatat un exceptional avânt in ultimii 10 ani, datorita domeniilor absolut inedite in care poate fi folosita, dar si a performantelor exceptionale date de noile dezvoltari in electronica (noile instrumente dielectrice au permis realizarea de masurari automate in intreaga scala, de la frecvente ultra joase pana la domeniul GHz), dar si de includere a unor pachete software avansate de achizitie, prelucrare, analiza si modelare a datelor experimentale, in corelatie directa cu structura si tehnologia materialelor studiate, un exemplu consistent in acest sens fiind cercetarile desfasurate de Runt si Fitzgerald, SUA, incepute in 1997-1999. Grupuri de lucru cu mare competenta internationala sunt preocupate de extinderea domeniului de aplicatie al spectroscopiei dielectrice, de ex. International Discussion Meeting on Relaxation in Complex Systems,coordonat de K.L. Nagai, Japonia, care s-a desfasurat in Alicante in 1993, Vigo in 1997 si Creta in 2001 si 2004, ultimile intilniri fiind dedicate aplicatiilor in biofizica si medicina.
Proiectul contribuie esential la dezvoltarea cunostiintelor în domeniu, si este în linie cu noile orientari ale aplicatiilor spectroscopiei dielectrice de banda larga la nivel mondial.
Proiectul se înscrie cu succes în cadrul prioritatilor strategice ale programului CAPACITATI, Modulul III, Cooperari Bilaterale, atât prin metoda propusa, cât si prin colaborarea activa cu partenerul strain, respectiv Universitatea din Hanseo, Coreea de Sud. Prin obiectivele propuse si colaborarile europene începute, tema de cercetare are o importanta dimensiune interdisciplinara, atât stiintifica, cât si socio-aplicativa, fiind adecvata necesitatilor cercetarii actuale